地質剖面及地球化學剖面測制
地質剖面及地球化學剖面測制
地質填圖前的地質剖面測制以及地化、地物剖面測量中的地質工作，均按此要求執行。
（一）剖面選擇和佈置原則
1、在分析前人資料、詳細踏勘和全面瞭解工作區內岩石、地層出露與分佈情況、基本構造格架和構造形態發育情況的基礎上選擇剖面。地質剖面應佈置在岩層及巖相出露較完整、基岩露頭好、標誌層發育、構造變動較小地段。預查、普查階段或異常查證時應儘量選擇在異常濃集區。總之，所選擇的剖面位置其地質特徵在全區應具有代表性。
2、剖面的佈置應基本垂直區域地層或構造線走向、異常長軸方向。在地質情況複雜地段，剖面總方向和地層走向夾角應不小於60度。若遇地形複雜、通行條件差的情況時，沿岩層走向可左右平移剖面實測位置，平移時注意岩層層位銜接。
3、剖面起點的選擇及在圖上的擺佈方法：
①北西向(27l—359度)—南東向(9l—179度)剖面以北西端作為起點測制，並置於圖左方，南東端置圖右方。
②北東向(1—89度)—南西向(18l—269度)剖面以南西端作為起點測制，並置於圖左方，北東端置右方。
③東西向(90—270度)剖面以西端作為起點並置於圖左方，東端置圖右方。
④南北向(0—180度)剖面以南端作為起點並置於圖左方，北端置圖右方。
4、圖切剖面在圖中的擺佈方法同上，圖切剖面比例尺與地質圖比例尺應相同。
（二）剖面測制及精度要求
1、剖面比例尺應根據剖面性質及研究目的等具體情況而定：地質剖面一般採用1∶500—1∶2000；地物化綜合剖面以設計規定為準。
2、首先用GPS（有條件時採用經緯儀）將剖面線起點準確標定於地形圖或航空照片上，然後開始用導線法進行剖面測量。地形剖面和地質測繪應同時進行，按導線順序詳細觀察，正確劃分層位界線。分層精度要求：原則上以相應比例尺圖面為l毫米的地質體應分出，但標誌層、礦層等有特殊意義的地質體，雖圖面不足l毫米，但也應分出並誇大表示。
3、按剖面測制記錄表逐項填好各項測量數據，用剖面地質記錄本逐層進行地質觀察描述。剖面地質記錄本與剖面登記表中的相關文字記錄應一致。為了便於成圖，應同時繪製信手剖面，對導線範圍內一些局部的地形變化予以反映；一些特殊的地質現象應在記錄本中繪製大比例尺素描圖。
4、逐層採集巖礦石標本、光薄片樣品、化石標本。標本樣品按統一圖例標註於剖面圖及登記表中。剖面起止點應反覆交會檢查。
5、計算剖面導線平距及測點高程等數據；剖面地層厚度計算採用萬能公式。
D＝L(Sinαc0sβsinγ± c0sαsin β )
式中：D—岩層真厚度
L—斜距
α—真傾角
β—坡度角
γ—剖面方向與岩層走向夾角
當地形坡向與岩層傾向相反時用 “＋”。
當地形坡向與岩層傾向相同時用 “ - ”。
（三）地質剖面圖的繪製
實測剖面圖的成圖方法一般採用投影法，當剖面導線方位較穩定(即導線方位與總方位基本一致)時用也可採用展開法作圖。投影法作圖方法如下：
1、野外繪製剖面手圖：在圖紙適當的位置上選定剖面的起點0，以通過0的水平線作為剖面總方位。從0點開始，根據導線測量長度及方位繪製導線平面圖；以導線總方向為基準，根據各導線方向與總導線方向夾角採用二次投影到總方位基準線上，在導線上方按其投影所得高差確定剖面地形線上的高差(h)，然後應根據實際地形細節，將其勾繪成真實曲線（見圖2-1）。
2、室內整理清圖時根據所計算出的導線水平距和高差用垂直投影法依次取得各導線的投影，將各導線點的投影結合手圖地形連成圓滑的曲線即得地形剖面線。成圖之前利用導線水平長度加權的方法計算出剖面實際總方位。
3）按地質分層在平面圖上繪製導線地質平面圖並標上各種地質要素（地質平面圖以導線為軸線寬度2cm）；將各導線上地質要素二次投影到水平基準線上，再垂直投到地形剖面上。繪製地質剖面圖填繪巖性花紋時，用計算出的視傾角按規定的花紋、圖例逐層填繪，當地層走向與剖面方向垂直時，則用真傾角填繪，花紋應該根據層厚按有關規範表示，花紋的寬度要適中，一般寬為3毫米。
(4)剖面圖上花紋線段的長度應統一，一般羣以上的地層間界線長度為2釐米，巖組間界線長1.5釐米，花紋線長1釐米。
(5)產狀垂直標註在產狀測量點上的相應位置，垂線長2釐米，
產狀標註線長0.8釐米，上為傾向，下為傾角，右上角標“°”。
（四）實測剖面圖的格式和其他要求
1、實測剖面圖的格式見圖2－2。
2、剖面圖垂直比例尺為剖面起點的實地標高。
3、根據圖面大小確定剖面圖、導線平面圖、水平標尺之間的距離，以圖面結構合理協調為原則。
4、圖例規格統一採用12×8毫米。圖籤的選擇視圖大小而定，置於圖幅右下角，一般採用ll×5.6釐米，小圖採用9×4.9釐米。
（五）地質剖面的研究
剖面測制完成後要對剖面資料進行詳細的野外研究，研究的重點是劃分地質填圖單元，統一工作人員對工作區地質特徵的認識，為地質填圖工作做好準備。具體內容包括：
1、正確劃分填圖單位，利用岩石地層學劃分巖組或巖性，建立地層層序（包括火山岩）；
2、對岩漿岩類侵入岩在總結巖性、組構、岩漿演化特徵以及接觸關係、巖相標誌的基礎上劃分岩石譜系單位；
3、變質岩劃分變質相帶；
4、初步確定含礦層位、控礦構造因素、岩漿岩成礦專屬性等。
5、在上述研究工作基礎上形成剖面工作小結。
二、地球化學剖面測制
地球化學剖面測量工作是地質、化探工作相結合的綜合找礦方法，也是在預查、普查階段應用較廣並行之有效的手段之一，其主要目的是解剖物化探異常、進行礦化定位、瞭解地質體（地層、岩漿岩、構造破碎帶、蝕變帶等）含礦性，為工程揭露、驗證提供依據。
根據礦產勘查工作性質、目的的不同，所採用的比例尺亦不同，一般採用1∶1萬、1∶5千和1∶2千三種，根據工作區基岩出露和土壤發育程度不同，採樣介質選擇岩石和土壤兩種類型。具體要求如下：
（一）佈置原則
1、地質—岩石剖面：1∶5千、1∶1萬地質—岩石剖面佈置在基岩出露好的地段，一般應垂直於地層走向或構造線、異常長軸方向。1∶2千地質—岩石剖面着重於對礦化構造破碎蝕變帶、礦化帶的控制。
2、地質—土壤剖面：佈置在基岩出露不好的地段，適用於殘坡積物、土壤發育或較發育的地區，用於確定覆蓋層下含礦地質體的位置。佈置時應垂直目標異常長軸方向。
（二）測制方法
羅盤定向、皮尺量距，按2.1的要求測制地質剖面。按不同巖性，礦化蝕變類型等進行詳細合理分層。土壤測量時，對土壤覆蓋較厚地段，儘量要以地表轉石和樣品採坑中出現的岩石碎塊等為依據，大致劃分不同的巖性層。
（三）樣品採集
1、岩石剖面：不同比例尺的剖面採樣要求不一。1∶1萬、1∶5千地化剖面採用連續揀塊法採集，樣點間距(水平間距)分別為20米、l0米；1∶2千地化剖面採用刻線法採集，樣點間距(水平間距)2—5米。不同巖性應分別採樣，對礦化蝕變明顯的地質體，要有針對性的進行加密採樣。對各採樣點在實地要有標記，用油漆標註樣品編號。岩石樣送樣重量不小於300克。
2、土壤剖面：樣品在採樣點周圍按點距的l/l0範圍內採樣。樣品可由一處或由數處組成。遇岩石露頭、廢石堆、沼澤、崩積物、河牀堆積、水田等不能取土壤樣時可棄點，但在記錄中應註明。同一條剖面應儘量採取同一層位的同一介質，一般應採取距地表20—50cm深處土壤的B層(淋積層)或C層(母質層)中的細粒級物質。在風成物發育地區要排除風成粒級，對未作過土壤測量的空白地區，應在工作前進行深度和粒度實驗，選定合適的採樣深度和粒級。樣品要按《土壤地球化學測量規範》要求進行野外加工，送交實驗室的樣品重量不小於200克。
對剖面上的所有樣品應及時送樣分析，對於以金等為主攻礦種的地區，樣品應進行快速分析，以指導找礦。
（四）剖面記錄
採用野外地質記錄本和實測剖面登記表，在野外隨剖面測制的進度詳細記錄，內容要全面、翔實、完整，各要素齊全。特別要注重礦化蝕變特徵的觀察和記錄，對重要的地質現象要做必要的素描和照像。
剖面岩石、土壤樣品記錄在野外地質記錄本及實測剖面登記表中，樣品位置及編號要清晰、準確。
（五）地化剖面圖的繪製
按圖2－2的格式執行。着重注意以下幾點：
1、樣品標註在採樣段的中點，為了減輕圖面負擔，地質剖面上只標註首尾及每隔5個樣（如y1、y6、y11…）的樣品位置及編號；而在地質剖面圖頂部第一個元素含量曲線圖的縱座標線上標註全部樣點，樣號同樣每隔5個樣標註一次。
2、元素含量曲線用不同顏色的線條表示，元素曲線中特高品位要標註數據，曲線不封閉。
（六）圖名確定
1、剖面涉及到地質測量、岩石測量兩項內容的統一為：
×××礦區(異常區)YP×地質—岩石地球化學剖面圖
2、剖面涉及到地質測量、土壤測量兩項內容的統一為：
×××礦區(異常區)TP×地質—土壤地球化學剖面圖
3、剖面涉及到地質、物探、化探（岩石、土壤）三項內容的統一為：
×××礦區(異常區)ZP×地物化綜合剖面圖
4、單一工作方法手段的剖面就以某一方法手段為主統一圖名
地質測量：×××礦區(異常區)DP×地質剖面圖
土壤測量：×××礦區(異常區)TP×土壤地球化學剖面圖
岩石測量：×××礦區(異常區)YP×岩石地球化學剖面圖等
5、剖面代號統一為：
地質剖面—DP 土壤剖面（包括地質—土壤剖面）—TP
岩石剖面（包括地質—岩石剖面）—YP 地物化綜合剖面—ZP