测试中被烧毁的设备。图片来源：腾讯安全
中新网客户端北京7月16日电(记者 吴涛)“市面上大量快充终端设备存在安全问题，攻击者可通过改写快充设备的固件控制充电行为，造成被充电设备元器件烧毁，或更严重的后果。保守估计，受BadPower影响的终端设备数量可能数以亿计。”
16日，腾讯安全玄武实验室发布的一项命名为BadPower的安全问题研究报告显示，对市面上35款支持快充技术的手机、充电器、充电宝等产品进行了测试，发现其中18款存在安全问题。
和一些漏洞不同，腾讯安全称，BadPower是能从数字世界攻击物理世界，且影响范围很大的安全问题。
“在我们的研究成果展示视频中，可以看到对某USB供电设备的攻击效果，设备内部的芯片被烧毁了。测试的手机也被烧毁了。对不同的攻击对象和攻击场景来说，后果不同。具体与过载时的电压、电流，以及受电设备的电路布局、元器件选择、乃至外壳材质、内部结构等均有关系。大部分情况下，设备内相关芯片击穿、烧毁，从而造成不可逆的物理损坏。”
攻击是如何实施的？报告称，攻击者可利用特制设备或被入侵的手机、笔记本等数字终端来入侵快充设备的固件，控制充电行为，使其向受电设备提供过高的功率，从而导致受电设备的元器件击穿、烧毁，还可能进一步给受电设备所在物理环境造成安全风险。
更严重的是，攻击方式包括物理接触和非物理接触，有相当一部分攻击可以通过远程方式完成。玄武实验室发现的18款存在BadPower问题的设备里，有11款设备可以通过数码终端进行无物理接触的攻击。
这18款存在BadPower问题的设备涉及8个品牌、9个不同型号的快充芯片。玄武实验室表示，不同的快充协议本身没有安全性高低的差别，风险主要取决于是否允许通过USB口改写固件，以及是否对改写固件操作进行了安全校验等。
据了解，目前市面上存在大量支持快充的手机或其他电子设备，具体哪些设备品牌或型号存在上述安全问题呢？
腾讯安全方面对中新网记者表示，其实所有支持快充技术的可对外供电的设备都可能存在类似问题。其中包括生产快充设备的厂商，也包括生产快充芯片的厂商等。同时，凡是通过USB供电的设备都可能成为BadPower功率过载攻击的受害者。
玄武实验室也针对市面上的快充芯片进行了调研，发现至少近六成具备成品后通过USB口更新固件的功能。使用这些芯片制造产品时需要在设计和实现上充分考虑安全，否则就可能导致BadPower问题。
腾讯安全玄武实验室负责人于旸称，“BadPower是设计过程引入的问题，我们这些年一直在呼吁安全前置，要从生产阶段前置到设计阶段，这类问题数量不多，但一旦发生就会影响整个行业。”
该安全问题如何解决？于旸称，大部分BadPower问题可通过更新设备固件进行修复。未来，厂商在设计和制造快充产品时可通过提升固件更新的安全校验机制、对设备固件代码进行严格安全检查、防止常见软件漏洞等措施来防止BadPower发生。(完)