一眼識破藏在半導體內部的“渣物質”

紅外和拉曼光譜技術一直是高分子、半導體領域樣本的重要測試手段。但隨著科研更精細化、直觀化的需求提升，傳統紅外與拉曼技術逐漸無法滿足先進材料研發中的表徵需求，包括高分子微球的甄別、纖維材料的高難度表徵、半導體微區失效的原因檢測等測試都對傳統光譜技術提出了巨大挑戰，一種全新的技術和方法出現了。

您，是否因傳統紅外空間解析度過低而無法測試？

您，是否因待測樣品的交叉汙染而功虧一簣？

您，是否對單一的點光譜檢測模式索然無味？

您，是否對角落/縫隙位置的“渣物質”束手無策？

您，是否準備好，迎接同時擁有高分辨、非接觸、多模式檢測、快速聯用的紅外拉曼系統？

我們在這裡等您！在本報告中，我們將介紹全新一代非接觸式亞微米級紅外拉曼同步測量系統mIRage，以及該系統所使用的光學光熱共振紅外技術（O-PTIR）和相關研究最新進展。mIRage憑藉著更豐富的紅外-拉曼交叉資訊，更精確的高空間解析度的觀測（~500nm），非接觸模式帶來的更便捷、快速測量，以及高光譜 特定波長的成像功能，對紅外光譜這種傳統的測試手段進行了重新定義。同時，在報告中將向大家分享近年來在國內外的最新應用，案例主要包括高分子、纖維材料以及半導體汙染檢測等領域的應用。

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主講人

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趙經鵬 博士

趙經鵬博士，畢業於法國國家科研中心，主要研究方向為工業催化有機小分子合成、高分子聚合物、纖維材料以及奈米材料物化效能表徵等相關研究工作。