研究人員開發出一種緊湊型高性能成像光譜儀

研究人員開發出一種緊湊型高性能成像光譜儀

來源:麻省理工學院林肯實驗

如上圖所示,研究人員開發了一種緊湊的成像光譜儀,使用折反射透鏡,將反射和折射元素組合成一個組件。他們還使用了一種特殊的平面浸沒反射光柵,在保持相同分辨率的同時,比傳統光柵佔用更少的空間。

研究人員開發出一種新的成像光譜儀,它比最先進的儀器輕得多,體積更小,同時保持了同樣的高性能。由於其體積小、模塊化設計,新儀器將為機載車輛甚至行星探測任務帶來這種先進的分析技術。

成像光譜儀記錄一系列單色圖像,用於對某一區域進行空間和光譜分析。該分析方法在大氣科學、生態學、地質、農林等領域得到了廣泛的應用。然而,由於儀器的體積大,使得它無法在某些應用中使用。

在光學學會(OSA)雜誌《應用光學Applied Optics》上,麻省理工學院林肯實驗室的RonaldB.Lockwood領導的研究人員描述了他們的新型CHRIP緊湊型VNIR/SWIR成像光譜儀(CCVIS)。它的體積比現在的大多數設備小10倍或更多。一種CCVIS的直徑為8.3釐米,長7釐米,大約是蘇打罐的大小。

光譜儀設計用於記錄波長為400到2500納米的光譜圖像。這包括光譜的可見光和近紅外(VNIR)以及短波近紅外(SWIR)部分。

Lockwood説:“我們的小型儀器有助於成像光譜學在各種科學和商業問題上的應用,例如部署在小型衞星上進行行星探測,或將無人駕駛航空系統用於農業目的。我們相信,我們的新光譜儀也可以用於研究氣候變化,這是成像光譜儀最令人興奮的應用之一。”

製作更小的光譜儀

今天大多數的成像光譜儀使用的是Offner-Chrisp光學結構,因為它能很好地控制被稱為像差的光學誤差。然而,這種設計需要一個相對較大的光學裝置。研究人員開發的新型CCVIS的性能與Offner-Chrisp配置非常相似,但採用了新的光學元件,使設計更加緊湊。

為了製造新的CCVIS,研究人員使用了一種折反射透鏡,它將反射和折射元素組合成一個組件。這創造了一個更緊湊的儀器,同時仍然控制光學像差。研究人員還使用了一種特殊的平面反射光柵,它浸沒在折射介質中而不是空氣中。這種光柵在保持相同分辨率的同時,比傳統光柵佔用的空間更小。

易於製造

Lockwood説:“CCVIS使用的是平面光柵,而不是凹面或凸面光柵,後者需要複雜的電子束光刻或金剛石加工技術製造。我們開發了一種灰度光刻微加工方法,使用一次性曝光製作光柵,不需要勞動密集型電子束處理。”

為了測試他們的新設計,研究人員在實驗室裏演示了分光計。他們的實驗證實了CCVIS在整個視野範圍內具有預期的性能。

Lockwood説:“CCVIS緊湊的尺寸意味着它可以製成模塊,可以堆疊起來以增加視野。它還使得在沒有温度變化的情況下保持穩定相對容易,因此光學對準和光譜性能保持不變。”

作為向太空演示的最終目標邁進的一步,研究人員正在尋求資金開發一個完整的原型,該原型可以在空中飛行器上進行進一步的測試。

來源:https://phys.org/news/2020-11-imaging-spectrometer-compromising.html

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